Chip-Alterungstester CFT1000
Der Alterungstest ist eine kritische Bewertung der Betriebsstabilität eines Chips unter extremen Temperaturbedingungen. Der Chip-Aging-Tester CFT1000 setzt den Chip über längere Zeit hohen oder niedrigen Temperaturen aus und überwacht seine Leistung. So bewertet er effektiv die Zuverlässigkeit und Stabilität des Geräts.
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- Information
Der Chip-Alterungstester CFT1000 führt umfassende Alterungstests durch, indem es über Hochtemperaturkabel und Vorrichtungen mit dem Prüfling verbunden wird. Nach dem Einschalten Chip-Alterungstester CFT1000 überwacht kontinuierlich mehrere Leistungsparameter des DUT unter extremen Temperaturbedingungen, einschließlich Spannung, Strom, Frequenz, Temperatur, Speicherlesen/-schreiben und Kommunikationsfunktionen, um festzustellen, ob der Chip die Qualifikationsstandards erfüllt.
Der Chip-Alterungstester CFT1000 ist ideal für Burn-In-Tests von RTC-Uhrenchips und anderen Halbleiterbauelementen und unterstützt bis zu 480 DUTs in einem einzigen Testzyklus. Die Chip-Alterungstester CFT1000 kann kritische Signale wie Spannung, Strom, Frequenz und Temperatur messen, mit einem weiten Temperaturbereich von -55℃ bis 155℃Die Kommunikation mit dem Prüfling erfolgt über I2C, SPI oder RS485 Schnittstellen, während die Chip-Alterungstester CFT1000 verbindet sich mit einem Host-PC über USB/Ethernet. Darüber hinaus Chip-Alterungstester CFT1000 verfügt über eine integrierte Zweikanal-Stromversorgung für flexible Testkonfigurationen.
Benutzerfreundliche Software und Automatisierung
Die Chip Aging Tester CFT1000 Software unterstützt sowohl manuelle als auch automatisierte Testmodi. Im automatisierten Modus können Benutzer Testskriptdateien importieren, um Parameter automatisch zu konfigurieren. Nach dem Klicken auf die Schaltfläche "Execute" wird die Chip-Alterungstester CFT1000 führt die Testsequenz entweder im Single-Pass- oder im Loop-Modus aus. Alle Testdaten und Ergebnisse werden automatisch in einem computergenerierten Bericht zur weiteren Analyse protokolliert.
Testaufbau und -betrieb
Das DUT wird auf die Prüfvorrichtungsfassung gesetzt, während die Vorrichtung und das DUT in einer Wärmekammer untergebracht sind.
Der Chip-Alterungstester CFT1000 und PC bleiben außerhalb der Kammer und sind über Hochtemperaturkabel (für Signal/Stromversorgung) und USB (für die Datenkommunikation) verbunden.
So beginnen Sie mit dem Testen:
Schließen Sie das Netzteil an und schalten Sie das Chip-Alterungstester CFT1000.
Starten Sie die Chip-Alterungstester CFT1000 Softwareschnittstelle.
Starten Sie den Testvorgang mit nur einem Klick.
Zusammenfassung der wichtigsten Funktionen
Hochdurchsatztests: Unterstützt 480 DUTs gleichzeitig.
Großer Temperaturbereich: -55 °C bis 155 °C für die Simulation extremer Umgebungen.
Unterstützung mehrerer Schnittstellenrt:I2C, SPI, RS485 für flexible DUT-Kommunikation.
Automatisierte Berichterstattung: Generiert Testprotokolle und Berichte in Echtzeit.
Der Chip-Alterungstester CFT1000 gewährleistet eine effiziente und genaue Validierung der Halbleiterzuverlässigkeit und ist somit ein unverzichtbares Werkzeug für die IC-Produktion und Qualitätssicherung.
